<span style="color:#337FE5;">[</span><span style="color:#337FE5;font-family:Arial, "font-size:16px;font-weight:700;background-color:#FFFFFF;">质量优化</span><span style="color:#337FE5;">]</span>数据驱动的晶圆图缺陷模式识别方法

[质量优化]数据驱动的晶圆图缺陷模式识别方法

杨振良, 汪俊亮, 张洁, 蒋小康

Data Driven Wafer Pattern Defect Pattern Recognition Method

YANG Zhenliang, WANG Junliang, ZHANG Jie, JIANG Xiaokang

中国机械工程 . 2019, (02): 230 -236 .