摘要:
闪光线、光亮带和压印不足是金银纪念币压印成形中的主要缺陷。基于实验室研发的压印成形模拟系统COINFORM,对纪念币的压印过程进行了数值模拟。在对光亮带缺陷分析的基础上,建立了径向摩擦功模型预测光亮带的位置。结合实验结果和成形模拟中金属的流动情况,分析了闪光线的形成机理。将原有算法进行改进,根据计算过程中坯饼表面和模具的接触状态确定结束计算时刻,并以计算结束时的坯饼反作用力来预测实际成形时所需的压印力。实验结果表明,所预测的压印力对压印不足缺陷的消除是有效的。
中图分类号:
钟文1, 柳玉起1, 许江平1, 胡云明2, 李胜强2, 赖茂明2, 孙志国2.
金银纪念币压印成形中的缺陷预测
[J]. 中国机械工程, 2012, 23(1): 109-112.
ZHONG Wen-1, LIU Yu-Qi-1, HU Jiang-Beng-1, HU Yun-Meng-2, LI Qing-Jiang-2, LAI Mao-Meng-2, SUN Zhi-Guo-2.
Defect Prediction in Coining Process for Au-Ag Commemorative Coins
[J]. China Mechanical Engineering, 2012, 23(1): 109-112.